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PRODUCT CLASSIFICATION技術(shù)文章
TECHNICAL ARTICLES
詳細介紹
介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀
儀器介紹
LJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀是根據(jù)GB/T 1409《測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗方法》（等效采用IEC 60250）設(shè)計和制造的，并符合JB 7770等試驗方法。它適用于在高頻（1MHz）下絕緣材料的測試。
技術(shù)參數(shù)
LJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前高的160MHz。 LJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀采用了多項技術(shù)：
1 雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動調(diào)諧搜索功能。
2 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。
3 雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧，數(shù)碼化電容調(diào)諧。
4 自動化測量技術(shù) -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。
5 全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調(diào)電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。
6 DDS 數(shù)字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真，頻率的高精確、幅度的高穩(wěn)定。
7 計算機自動修正技術(shù)和測試回路*化 —使測試回路 殘余電感減至zui低，** Q 讀數(shù)值在不同頻率時要加以修正的困惑。
LJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀的創(chuàng)新設(shè)計，無疑為高頻元器件的阻抗測量提供了*的解決方案，它給從事高頻電子設(shè)計的工程師、科研人員、高校實驗室和電子制造業(yè)提供了更為方便的檢測工具，測量值更為精確，測量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點調(diào)諧電容值下檢測器件的品質(zhì)，無須關(guān)注量程和換算單位
介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀主要技術(shù)特性
| Q 值測量范圍 | 2 ～ 1023 ,量程分檔： 30 、 100 、 300 、 1000,自動換檔或手動換檔 |
| 固有誤差 | ≤ 5 ％ ± 滿度值的 2 ％(200kHz ～ 10MHz ),≤6％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz） |
| 工作誤差 | ≤7％ ± 滿度值的2％( 200kHz ～ 10MHz),≤8％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz） |
| 電感測量范圍 | 4.5nH ～ 140mH |
| 電容直接測量范圍 | 1 ～ 200pF |
| 主電容調(diào)節(jié)范圍 | 18 ～ 220pF |
| 主電容調(diào)節(jié)準(zhǔn)確度 | 120pF 以下 ± 1.2pF;120pF 以上 ± 1 ％ |
| 信號源頻率覆蓋范圍 | 100kHz ～ 160MHz |
| 頻率分段(虛擬) | 100 ～ 999.999kHz ,1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz,100 ～ 160MHz |
| 頻率指示誤差 | 3 × 10 -5 ± 1 個字 |
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